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內政部警政署刑事警察局全球資訊網

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鑑識新知

發布日期:109-12-26

更新日期:110-05-06

發布單位:刑事警察局理化科

掃瞄式電子顯微鏡/X-射線能譜分析法(SEM/EDX)應用於纖維鑑定
  纖維係重要生活用品材料,常因接觸而轉移而作為刑案現場之微物跡證證據,如車禍現場、強盜案、綁架案等,遺留之纖維跡證,與可疑樣品比對,可連結彼此之關聯性。掃描式電子顯微鏡(scanning electron microscope, SEM)係利用電子成像原理,放大倍率可達數十萬倍,用於觀察樣品表面顯微型態特徵;X-射線能譜儀(energy dispersive X-ray spectrometer, EDX)係利用電子束撞擊樣品產生特性X-射線,用於研判樣品之元素組成,刑事實驗室中常應用掃瞄式電子顯微鏡/X-射線能譜儀作為微物跡證影像紀錄及元素分析。
  纖維概括可區分為天然纖維及人造纖維,具有不同之型態特徵,將纖維置於實體顯微鏡下,觀察其型態外觀:
  1. 聚酯纖維屬人造纖維,呈光滑狀。
  2. 棉纖維屬天然植物纖維,呈扁平捲旋狀。